Motor de bobina de voz rotativa de alta precisão para equipamento de inspecção de wafer de semicondutores

Lugar de origem porcelana, Suzhou
Marca SUPT MOTION
Certificação ISO9001-2000
Número do modelo Série de VARS
Quantidade de ordem mínima 1PCS
Preço $102-$210
Detalhes da embalagem Caixa que empacota etc.
Tempo de entrega 1-5 peças, 5 dias. > 20 peças, a negociar
Termos de pagamento T/T
Habilidade da fonte Negociável

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Detalhes do produto
Peso 65g Comprimento 81 mm
Tensão 8.4V Modelo de produto VARS0120-020-00A
Força de pico 1,2Nm Derrame total 20 °
Tipo Micro motor Material de habitação Alumínio
Tipo de movimento Rotativo
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Modelo Preço
VARS0022-0032-00B - $ 210.
VARS0048-0030-00A 175 dólares.
VARS0706-0014-00A $ 150
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Modelo Preço
Descrição de produto
Descrição do produto:
Motor rotativo de bobina de voz resistente à radiação de vácuo de alta precisão, especificamente concebido para o ambiente difícil da inspecção de wafers de semicondutores,Pode operar estavelmente num vácuo de 10−6 Pa e sob forte radiaçãoO motor utiliza materiais isoladores especiais resistentes à radiação, com enrolamentos livres de voláteis orgânicos para evitar a contaminação da superfície da bolacha.Ele suporta rotação contínua em múltiplos ângulos e posicionamento de ângulo preciso, utilizado para a condução de sondas de inspecção para ajustar a orientação.que satisfaçam os requisitos da sala limpa da indústria dos semicondutoresO torque de saída é suave, a precisão de posicionamento atinge ± 0,08° e a velocidade de resposta é rápida, tornando-o adequado para inspecção de defeitos de wafer, medição dimensional,e outros equipamentos para melhorar a eficiência das inspecções e a precisão dos dados, apoiando a modernização da automação das linhas de produção de semicondutores.
 

 

Características:

  • Nome do produto: Motor de bobina de voz rotativa
  • Peso: 65g
  • Tamanho: 81*73,4*32mm
  • Nome: Motor de bobina de voz rotativa
  • Traço: 20°
  • Período de vida: 10000h
  • Nível de vácuo: 10−6 Pa
  • Tolerância à radiação: ≥ 105 Gy
  • Precisão de posicionamento: ±0,08°
  • Intervalo de binário: 1,2 N·m
  • Velocidade de rotação: 100-800 r/min
  • Classificação de proteção: IP67 (selado a vácuo)
  • Característica especial: Motor de bobina de voz curvada, VCM rotativo, motor de bobina de voz rotativa

Parâmetros técnicos:

Parâmetros Detalhes
Tipo Motor de bobina de voz rotativa (VCM rotativo, Actuador de bobina de voz rotativa)
Garantia 1 ano
Infarto 20°
Torque máximo 1.2N-m
Ruído Baixo
Tamanho 81*73,4*32 mm
Duração 81 mm
Velocidade Alto
Peso 65 g
Voltagem 8.4V
Modelo de produto
Torque máximo
(N-m)
Torque contínuo
a 25°C ((N-m)
Aceleração total
graus
(graduação)
Voltagem máxima
(V)
Constante de campo electromagnético traseiro
(V/m/s)
Peso da bobina ((g) Duração
(mm)
Largura
(mm)
Altura
(mm)
VARS0008-026-00A 0.08 0.05 26 6.4 0.05 11.7 35 39.8 36.1
VARS0017-090-00A 0.17 0.1 90 11.1 0.1 17.8 70 41.5 39
VARS0022-032-00A 0.22 0.12 32 15.5 0.16 21.5 60 60 36
VARS0042-040-00A 0.42 0.38 40 3.5 0.12 38 82 53.6 30.3
VARS0077-020-00A 0.77 0.63 20 6.7 0.24 66 75 50 30
VARS0084-030-00A 0.84 0.6 30 6.3 0.2 50.4 75 48.9 30.6
VARS0120-020-00A 1.2 0.5 20 8.4 0.67 65 81 73.4 32
VARS0350-060-00A 3.5 1.6 60 26.3 0.4 350 ¥169.6 ¥169.6 63
VARS0706-014-00A 7.1 2.1 14 52.4 1.03 225.5 115 65 54.5
VARS4520-030-00A 45.2 19 30 71.5 4.3 1350 ¥240   78

Aplicações:

Em processos de inspeção de defeitos de wafer e de embalagem de chips, motores rotativos de bobina de voz, com precisão de posicionamento angular dentro de ± 0,1°, conduzem sondas de inspeção para realizar operações de alta frequência,escaneamento de rotação de pequena amplitude na superfície da bolachaO seu design sem estruturas de transmissão mecânica elimina erros de reação e, combinado com uma velocidade de resposta de milissegundos, pode capturar com precisão os detalhes finos dos circuitos do chip.Realizando a detecção de defeitos a nível nanométrico e fornecendo apoio essencial ao controlo do rendimento na fabricação de semicondutores.

Motor de bobina de voz rotativa de alta precisão para equipamento de inspecção de wafer de semicondutores 0